4項新材料與納米領域國家計量技術規範發布實施

近日(rì)，市場監管總局發布新材料與納米領域4項計量技術規範，分(fēn)别爲《激光(guāng)衍射法反射光(guāng)栅校(xiào)準規範》《錫膏厚度測量儀校(xiào)準規範》《雷達散射截面法材料反射率測試系統校(xiào)準規範》《煤中氟/氯測定儀校(xiào)準規範》，将于2022年10月29日(rì)正式實施。

随着微納科(kē)技與微納産業的快(kuài)速發展，各類電子和光(guāng)學顯微鏡在微納技術領域的保有量迅速增加。光(guāng)栅間距樣闆作爲傳遞标準廣泛應用于掃描電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡以及光(guāng)學顯微鏡的放(fàng)大(dà)倍率的校(xiào)準，是各類顯微鏡測量準确性的*。因此，作爲傳遞标準的光(guāng)栅間距樣闆的量值必須以較小的不确定度溯源至SI單位。反射光(guāng)栅間距的激光(guāng)衍射測量技術是一種非成像的間接測量微納間距的技術，具有儀器設備結構簡單、測量面積大(dà)、測量速度快(kuài)、平均間距測量準确度高等優點，加之測量成本低，在微納制造産業的在線、高速測量方面有巨大(dà)的應用潛力。《激光(guāng)衍射法反射光(guāng)栅校(xiào)準規範》的發布與實施爲用激光(guāng)衍射法測量光(guāng)栅間距提供了全面的、科(kē)學的、規範的法制依據和技術指導，爲支持微納産業等相(xiàng)關技術領域發展也奠定技術基礎。

集成電路(lù)産業作爲智能制造的主要領域，是引領新一輪科(kē)技革命和産業變革的關鍵力量。在集成電路(lù)生(shēng)産制造過程中，集成電路(lù)闆上錫膏的印刷質量将直接影(yǐng)響芯片和電子元器件(jiàn)焊接的質量，進而影(yǐng)響最終産品的性能。錫膏厚度測量儀是一種被廣泛用于檢測錫膏印刷質量的儀器。它采用非接觸式的光(guāng)學測量原理，能快(kuài)速、無損地測量錫膏厚度、面積、體(tǐ)積等關鍵參數，對于判斷錫膏印刷質量起到極其重要的作用。此前，由于缺乏相(xiàng)關的計量技術規範，錫膏厚度測量儀的可靠性和準确性隻能依靠儀器生(shēng)産廠(chǎng)家提供的維護服務，儀器量值無法得(de)到有效溯源，因此急需制定統一的校(xiào)準規範文件(jiàn)。在對國内外主要錫膏厚度測量儀産品和國内用戶實際使用情況進行廣泛調研的基礎上，通過深入研究儀器技術指标、校(xiào)準方法以及計量标準器等關鍵技術問題，起草制定了《錫膏厚度測量儀校(xiào)準規範》。本規範的發布和實施，将填補國内錫膏厚度測量儀校(xiào)準技術依據的空白(bái)，有利于實現錫膏厚度測量儀校(xiào)準方法的統一和測量結果的溯源，*集成電路(lù)闆錫膏厚度量值的準确、一緻和可靠。推動國内集成電路(lù)相(xiàng)關生(shēng)産企業提升産品質量和技術能力，促進相(xiàng)關行業技術标準的統一，助力制造強國戰略的實施。

反射率是衡量微波低散射材料性能的重要指标，可以直觀地表達出材料對雷達信号的反射性能。通過反射率性能的考察，能實現材料的配比組成與結構參數的進一步優化。《雷達散射截面法材料反射率測試系統校(xiào)準規範》的發布與實施，使雷達散射截面法材料反射率測試系統對于材料反射率的測試準确性有了溯源依據，對于*微波低散射材料研制過程中的質量可靠性有重要意義。

煤炭作爲我國第一能源，年消耗量将約40億噸。氯和氟是煤中的有害元素，煤炭燃燒時，氯的危害主要表現在對鍋爐設備及管道的腐蝕和玷污堵塞。燃燒後，氟化物發生(shēng)分(fēn)解，以HF、SiF4等氣态污染物形式排入大(dà)氣，造成大(dà)氣氟污染和對生(shēng)态環境的破壞，對人體(tǐ)、動植物健康帶來(lái)嚴重危害，給農牧業造成經濟損失。國家頒發《商品煤質量管理辦法》《商品煤質量評價與控制技術指南(nán)》等文件(jiàn)對煤中氟氯等有害元素限值做出明确規定，煤炭氯元素含量應不超過0.3%，氟元素含量應不超過200μg/g。《煤中氟/氯測定儀校(xiào)準規範》的發布與實施爲煤中氟氯測定儀提供了詳細的校(xiào)準方法、解決儀器量值溯源難題。該技術規範有利于指導煤中氟氯測定儀的生(shēng)産，提升儀器品質、統一儀器計量性能的評價。爲煤炭能源清潔利用提供技術支撐，爲“藍天白(bái)雲”環保事(shì)業貢獻計量力量。